真空鍍膜機膜厚的監(jiān)控方法較多，目前較新的方法是光學(xué)監(jiān)控法，其相對于的傳統(tǒng)的石英晶體微量平衡法來說，光學(xué)監(jiān)控法更具有準確性，因為傳統(tǒng)的測試的方法很難阻止傳感器跌入這個敏感區(qū)域，從而對膜層造成較大的誤差。下面鍍膜機廠家就來為大家介紹一些光學(xué)監(jiān)控法的特點。
       光學(xué)監(jiān)控法可以有效提高光學(xué)反應(yīng)對膜厚度變化靈敏度的理論和方法來減少誤差，提供了反饋或傳輸?shù)倪x擇模式和大范圍的監(jiān)測波長，光學(xué)監(jiān)控法非常適合于各種膜厚的鍍膜監(jiān)控包括非規(guī)整膜監(jiān)控。能夠更精確地控制膜層厚度 。
       上述所說就是鍍膜機廠家為大家介紹的光學(xué)監(jiān)控法的一些特點，而從中我們不難看出光學(xué)監(jiān)控相比傳統(tǒng)的監(jiān)控法來說是一種更適合對真空鍍膜機膜厚的監(jiān)測方法。

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